探测近表面缺陷
精确测定缺陷长度
精确测定缺陷高度
用于表面缺陷检测
第1题：
利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
第2题：
用双晶直探头对平面工件探伤时，最好的操作方法是使隔声层（）于探头扫查方向。
第3题：
A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行
B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点
C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点
D.底面第一次底波B1<50%满幅，移动探头使底波上升至50%满幅，以探头中心点为缺陷边界点
第4题：
超声波检测常用的探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头。
第5题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
第6题：
以下哪种方法不属于纵波直探头法（）
第7题：
按照NB/T47013.3-2015标准规定，厚度30mm锻件超声检测，可选用的探头是（）
第8题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
第9题：
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
第10题：
双晶直探头的最主要用途是（）。