与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

题目
判断题
与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
A

B

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第1题:

斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。


正确答案:正确

第2题:

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。


正确答案:正确

第3题:

IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变。()

此题为判断题(对,错)。


正确答案:√

第4题:

70度探头折射角测定应()。

  • A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧
  • B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧
  • C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔
  • D、在半圆试块上测定

正确答案:A

第5题:

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨力
  • D、以上全是

正确答案:C

第6题:

CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。

  • A、 直探头的的远场分辨力
  • B、 斜探头的K值
  • C、 斜探头的入射点
  • D、 斜探头的声束偏斜角

正确答案:C

第7题:

与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。


正确答案:正确

第8题:

下列属于日本标准试块的是()

A、CSK—IB

B、STB—G

C、RB

D、IIW


参考答案:B

第9题:

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨率
  • D、以上全部

正确答案:A

第10题:

《钢轨探伤管理规则》规定,探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。


正确答案:正确