不变
变化
第1题：
H-1型半圆试块（）。
第2题：
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
第3题：
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
70度探头折射角测定应（）。
第5题：
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。
第6题：
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。
第7题：
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
第8题：
用CSK—1A试块测定的折射角，在探测任何声速工件时，其折射角不变。（ ）
此题为判断题(对，错)。
第9题：
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
第10题：
70°探头折射角测定应（）。