对
错
第1题：
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
第2题：
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
第3题：
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
第5题：
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
第6题：
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
第7题：
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。
第8题：
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
第9题：
如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？
第10题：
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。