第1题：
用于仪器探头系统性能较准和检测较准的试块叫（）
第2题：
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
第3题：
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
第5题：
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。
第6题：
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
第7题：
用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
第8题：
A、CSK—IB
B、STB—G
C、RB
D、IIW
第9题：
IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能。
第10题：
如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？