计算涡流试验线圈阻抗的公式是什么?()

题目
单选题
计算涡流试验线圈阻抗的公式是什么?()
A

Z=2πf·L

B

Z=XL+R

C

Z=(XL+R)

D

Z=(XL+R)1/2221/2

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第1题:

电涡流式压力传感器利用电涡流效应将压力的变化变换成线圈的()

  • A、电阻变化
  • B、电容变化
  • C、阻抗变化
  • D、电涡流变化

正确答案:C

第2题:

涡流试验时,被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测?()

  • A、试验速度;
  • B、传感线圈的阻抗;
  • C、以上都不是;
  • D、以上都是.

正确答案:B

第3题:

涡流式压力传感器利用涡流效应将压力变换成线圈()仪器实现压力测量。

A.电阻;

B.电容;

C.电压;

D.阻抗。


正确答案:D

第4题:

涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。


正确答案:正确

第5题:

简述涡流检测时,有哪些主要因素会影响线圈阻抗?


正确答案:涡流检测时,影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来:1-η+μrμ
相对磁导率;μeffeff式中:η--填充系数;μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有:电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率:如果电导率σ变,则特征频率fg变[fg=1/(2πμσα),α是试件半径],贝塞尔函数的变量变,有效磁导率变,试验线圈阻抗变。电导率的变化,在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率:非磁性材料,因为μr近似为1,所以对阻抗无影响;磁性材料,因为μr远大于1,所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸:试件几何尺寸通常以直径(或半径)描述。试件直径的变化,不仅影响有效磁导率(分析参见电导率分析),而且影响填充系数。因此,试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷:缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果,使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算,通常是借助于模型进行实验。试验频率:试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比f/fg上,由于有效磁导率是以频率比f/fg为参变量的,随着试验频率的不同,试验线圈在曲线上的位置发生改变。

第6题:

简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。


正确答案: 涡电流效应:金属板置于一个线圈附近,相互间距为δ,当线圈中有高频交变电流i通过时,产生交变磁通φ,此磁通通过邻近金属板,金属板表层产生感应电流,称为涡电流或涡流。
涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。

第7题:

涡流试验中,理论最大试验速度取决于().

  • A、磁通密度;
  • B、试验频率;
  • C、传动装置;
  • D、试验线圈阻抗.

正确答案:B

第8题:

下面哪条不是影响涡流线圈电感的因素?()

  • A、线圈直径;
  • B、试验频率;
  • C、线圈的形状;
  • D、离其它线圈的距离.

正确答案:B

第9题:

下列哪一种情况下,涡流检测线圈的阻抗会增加?()

  • A、检测频率增加
  • B、线圈感抗减少
  • C、线圈电感减少
  • D、线圈电阻减少

正确答案:A

第10题:

涡流检测中,试验线圈阻抗增加是()造成的。

  • A、频率增加
  • B、电阻增加
  • C、电流增加
  • D、电感增加

正确答案:A

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