第1题：
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
第2题：
在碳钢和低合金钢锻件超声检测时，按照JB/T4730.3—2005标准规定，如何记录密集性 缺陷？如何测定缺陷密集区面积？
第3题：
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
第4题：
JB/T4730.5-2005标准对观察显示时间时怎样规定的？
第5题：
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
第6题：
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷显示在长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于30°时，按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许（）。
第7题：
下列叙述与JB/T4730.5-2005标准规定不相符合的是：（）
第8题：
用溶剂去除型着色探伤时，按照JB/T4730.5-2005的规定，应该怎样去除多余的渗透剂？
第9题：
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
第10题：
按照JB/T4730.5-2005的规定，渗透探伤方法的选择应考虑哪些因素？试举例说明。