双晶探头
双斜探头
斜探头或聚焦斜探头
纵波斜探头
第1题:
缺陷离试件表面越近,形成的漏磁通越小
在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受缺陷方向影响
交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小
在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时,其漏磁通密度受磁化方向影响;
除A以外都对
第2题:
电路图
设计图
方块图
上述三种都不对
第3题:
原曝光曲线用久变脏、破损,需要换新
电流表、电压表使用长时间后不准确
X光管老化,产生的X射线能量变低
以上都对
第4题:
试件不能进行磁粉检验的
试件的几何尺寸复杂
非铁磁性材料
以上都对
第5题:
对
错
第6题:
与导杆中的强度和分布相同
大于导杆中的磁场
小于导杆中的磁场
在试件内处处相同
第7题:
材料磁化的难易程度
零件中磁场的深度
零件退磁需要的时间
保留磁场的能力
第8题:
第9题:
渗透检测的结果不能受到影响
渗透检测的灵敏度须有所提高
只要方法选择得当,可以不考虑粗糙度影响
受检件非机加面可不进行检测
第10题:
对
错