当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

第1题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

A对

B错

第2题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

A对

B错

第3题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

A对

B错

第4题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

第5题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第6题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

A对

B错

第7题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

A对

B错

第8题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。

A对

B错

第9题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。

第10题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。