对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升

第1题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

A对

B错

第2题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

A对

B错

第3题：

第4题：

电缆的额定电压应按U0/U选择。下面表述正确的是（）。

• A、U0—电缆导体对地的额定工频电压
• B、U0—电缆导体与绝缘屏蔽层或金属护套之间的额定工频电压
• C、U—任何两相线之间的额定工频电压
• D、U—每一导体与绝缘屏蔽层或金属护套之间的基准绝缘水平

第5题：

对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。

A对

B错

第6题：

于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。

A升高

B降低

C基本不变

第7题：

对于额定电压为35kV及以上的设备，测试tanδ时一般升压至10kV。

A对

B错

第8题：

第9题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第10题：

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。