tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则

题目

tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。

  • A、良好绝缘
  • B、绝缘中存在气隙
  • C、绝缘受潮
参考答案和解析
正确答案:C
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相似问题和答案

第1题:

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。

A

B



第2题:

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时,介质损耗P与tanδ成反比。

A

B



第3题:

已知tanα+sinα=m,tanα-sinα=n(m+n≠0),则cosα的值是()


答案:A
解析:

第4题:

当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。


正确答案:正确

第5题:

当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。

A

B



第6题:

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。

A

B



第7题:

西林电桥测试tanδ时,升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。

A

B



第8题:

当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

A

B



第9题:

测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。


正确答案:正确

第10题:

西林电桥测试tanδ时,升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。


正确答案:错误