tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。
第1题:
对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。
A对
B错
第2题:
当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时,介质损耗P与tanδ成反比。
A对
B错
第3题:
第4题:
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。
第5题:
当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。
A对
B错
第6题:
对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。
A对
B错
第7题:
西林电桥测试tanδ时,升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。
A对
B错
第8题:
当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。
A对
B错
第9题:
测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。
第10题:
西林电桥测试tanδ时,升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。