当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
第1题：
对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。
A对
B错
第2题：
当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。
A对
B错
第3题：
当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。
A对
B错
第4题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
第5题：
当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
A对
B错
第6题：
对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。
A对
B错
第7题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
A对
B错
第8题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
A对
B错
第9题：
试验中有时发现绝缘电阻较低，泄漏电流大而被认为不合格的被试品，为何同时测得的tanδ值还合格呢？
第10题：
当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。