对
错
第1题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
A对
B错
第2题：
在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时，受外界影响的因素很多，往往引入很多误差，这类试品主要是指（）。
第3题：
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
A对
B错
第4题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
第5题：
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。
第6题：
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
A对
B错
第7题：
变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器（）、严重的局部缺陷等。
第8题：
一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。
A对
B错
第9题：
介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。
第10题：
一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。