比较两条单色的X射线的谱线时注意到,谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处,给出第三级的反射极大,则谱线A的波长为(  )nm。A.0.148 B.0.158 C.0.168 D.0.178

题目
比较两条单色的X射线的谱线时注意到,谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处,给出第三级的反射极大,则谱线A的波长为(  )nm。

A.0.148
B.0.158
C.0.168
D.0.178
参考答案和解析
答案:C
解析:
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相似问题和答案

第1题:

波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的单色平行光,垂直射入到光栅上,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处波长为λ2谱线的级数为:

A.2,3,4,5,…
B. 5,10,15,20,…
C.2,4,6,8,…
D.3,6,9,12,…

答案:D
解析:

第2题:

波长为0.168nm (1nm=10-9m)的X射线以入射角θ射向某晶体表面时,在反射方向出现第一级极大,已知晶体的晶格常数为0.168nm,则θ角为( )。
A. 30° B. 45° C. 60° D. 90°


答案:A
解析:
提示:由布拉格定律,2dsinθ =kλ = (k=0,1,2,3,...),得sinθ = 1/2,故正确答案是 A。

第3题:

CT扫描时,γ射人体的X线是

A.—束γ射线

B.近似单一能谱射线

C.β射线

D.散射线

E.混合能谱射线


正确答案:B

第4题:

在发射光谱进行谱线检查时,通常采用与标准光谱比较的方法来确定谱线位置,通常作为标准的是()

  • A、铁谱
  • B、铜谱
  • C、碳谱
  • D、氢谱

正确答案:A

第5题:

以波长λ1=0.11nm的X射线照射某晶面,其晶面间距为d,在入射掠射角为θ1=11.25°时获得第一级极大反射光;换用另一波长为λ2的X射线照射该晶面,测得第一 级极大反射光相应的入射掠射角为θ2=17.5°,则以下计算结果正确的是( )。

A.d=3.55nm,λ2=2.14nm
B.d=0.282nm,λ2=5.90nm
C.d=3.55nm,λ2=0.170nm
D.d=0.282nm,λ2=0.170nm

答案:D
解析:

第6题:

波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的单色平行光,垂直入射到光栅上,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处波长为λ2谱线的级数为:

A.2,3,4,5,…
B.5,10,15,20,…
C.2,4,6,8,…
D.3,6,9,12,…

答案:D
解析:

第7题:

某单色光垂直入射到一个每一毫米有800条刻痕线的光栅上,如果第一级谱线的衍射角为30°,则入射光的波长应为( )。

A.0.625μm
B.1.25μm
C.2.5μm
D.5μm

答案:A
解析:

第8题:

关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关射线B.X射线谱是连续能量谱SXB

关于特征X线的叙述,正确的是

A.X线波长仅与管电压有关射线

B.X射线谱是连续能量谱

C.电压升高特征放射能量增加

D.管电压升高特征射线的百分比减少


正确答案:A
连续X线的最短波长仅与管电压有关,管电压越高,产生的X线最短波长愈短。

第9题:

X射线透过滤线板后()

  • A、强度增加,谱线范围变窄; 
  • B、能量增加,谱线范围变宽; 
  • C、射线变硬,谱线范围变宽; 
  • D、射线变硬,谱线范围变窄; 
  • E、射线变软,谱线范围变窄;

正确答案:D

第10题:

波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。


正确答案:正确

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