假设进行一次受固溶度限制的预淀积扩散,从掺杂玻璃源引入的杂质总剂量为Qcm-2。

题目

假设进行一次受固溶度限制的预淀积扩散,从掺杂玻璃源引入的杂质总剂量为Qcm-2

参考答案和解析
正确答案: (1)如果这次预淀积进行了总共t分钟,若预淀积温度不变,引入3Qcm-2的杂质需要多长时间?(2)预淀积后再进行推进扩散,要求推进的杂质足够深,使得最后表面杂质浓度等于其固溶度Cs的1%。若已知预淀积过程中的(Dt)predop,推导出推进扩散过程中(Dt)drive-in的表达式。
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第1题:

在扩散之前在硅表面先沉积一层杂质,在整个过程中这层杂质作为扩散的杂质源,不再有新的杂质补充,这种扩散方式称为:()


正确答案:恒定表面源扩散

第2题:

二氧化硅在扩散时能对杂质起掩蔽作用进行()扩散。

  • A、预
  • B、再
  • C、选择

正确答案:C

第3题:

表示杂质在硅-二氧化硅界面处重新分布的性质和程度,习惯上常用()。

  • A、分凝度
  • B、固溶度
  • C、分凝系数
  • D、扩散系数

正确答案:C

第4题:

在热扩散工艺中的预淀积步骤中,砷和锑的扩散温度为()。

  • A、1050~1200℃
  • B、900~1050℃
  • C、1100~1250℃
  • D、1200~1350℃

正确答案:A

第5题:

通常热扩散分为两个大步骤,其中第一个步骤是()。

  • A、再分布
  • B、等表面浓度扩散
  • C、预淀积
  • D、等总掺杂剂量扩散

正确答案:C

第6题:

CVD淀积过程中两个主要的限制步骤是什么?它们分别在什么情况下会支配整个淀积速率?


正确答案: CVD过程包括两个部分:一、反应剂在边界层中的输运二、反应剂在衬底表面的化学反应 存在两种极限情况:①hg>>ks,Cs趋于Cg,淀积速率受表面化学反应速率控制。反应剂数量:主气流输运到硅片表面的﹥表面化学反应所需要的②hg<0e−EA/KT淀积速率随温度的升高而成指数增加。②高温情况下,质量输运控制由于反应速度的加快,输运到表面的反应剂数量低于该温度下表面化学反应所需要的数量,这时的淀积速率将转为由质量输运控制,基本不再随温度变化而变化。

第7题:

在热扩散工艺中的预淀积步骤中,硼在900~1050℃的条件下,扩散时间大约()为宜。

  • A、4~6h
  • B、50min~2h
  • C、10~40min
  • D、5~10min

正确答案:C

第8题:

γ-Fe中碳的固溶度为2.11%,α-Fe中碳的固溶度则是0.0218%,为什么γ-Fe中的溶入量要比α-Fe大?


正确答案:因为碳原子的半径是0.77×10-10m,γ-Fe的最大原子间隙是0.52×10-10m,只要γ-Fe中的铁原子稍为偏离位置,碳原子就很容易溶入其晶格中。而α-Fe的晶格间隙小,原子不易进入其中,所以溶解度小。

第9题:

一般分析扩散系数,考虑两种条件,即恒定表面浓度条件和()。

  • A、恒定总掺杂剂量
  • B、不恒定总掺杂剂量
  • C、恒定杂志浓度
  • D、不恒定杂志浓度

正确答案:A

第10题:

在半导体工艺中,如果淀积的薄膜不是连续的,存在一些空隙,则()。

  • A、使薄膜的介电常数变大
  • B、可能引入杂质
  • C、可能使薄膜层间短路
  • D、使薄膜介电常数变小
  • E、可能使薄膜厚度增加

正确答案:B,C

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