LPCVD系统中淀积速率是受表面反应控制的,APCVD系统中淀积速率受质量输运控制。

题目
判断题
LPCVD系统中淀积速率是受表面反应控制的,APCVD系统中淀积速率受质量输运控制。
A

B

参考答案和解析
正确答案:
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第1题:

采用LPCVD TEOS淀积的是什么膜?这层膜的优点是什么?


正确答案:多晶硅薄膜
用TEOS(正硅酸乙酯)-臭氧方法淀积SiO2 Si(C2H5O4)+8O3 SiO2+10H2O+8CO2
优点:
A.低温淀积;
B.高的深宽比填隙能力;
C.避免硅片表面和边角损伤。

第2题:

热分解化学气相淀积二氧化硅是利用()化合物,经过热分解反应,在基片表面淀积二氧化硅。


正确答案:含有硅的化合物

第3题:

低压化学气相淀积与常压化学气相淀积法相比,优点有?


参考答案:①晶体生长或成膜的质量好;②淀积温度低,便于控制;③可使淀积衬底的表面积扩大,提高淀积效率。

第4题:

损伤的分布与注入离子在在靶内的()的分布密切相关。

  • A、能量淀积
  • B、动量淀积
  • C、能量振荡
  • D、动量振荡

正确答案:A

第5题:

CVD淀积过程中两个主要的限制步骤是什么?它们分别在什么情况下会支配整个淀积速率?


正确答案: CVD过程包括两个部分:一、反应剂在边界层中的输运二、反应剂在衬底表面的化学反应 存在两种极限情况:①hg>>ks,Cs趋于Cg,淀积速率受表面化学反应速率控制。反应剂数量:主气流输运到硅片表面的﹥表面化学反应所需要的②hg<0e−EA/KT淀积速率随温度的升高而成指数增加。②高温情况下,质量输运控制由于反应速度的加快,输运到表面的反应剂数量低于该温度下表面化学反应所需要的数量,这时的淀积速率将转为由质量输运控制,基本不再随温度变化而变化。

第6题:

假设进行一次受固溶度限制的预淀积扩散,从掺杂玻璃源引入的杂质总剂量为Qcm-2


正确答案: (1)如果这次预淀积进行了总共t分钟,若预淀积温度不变,引入3Qcm-2的杂质需要多长时间?(2)预淀积后再进行推进扩散,要求推进的杂质足够深,使得最后表面杂质浓度等于其固溶度Cs的1%。若已知预淀积过程中的(Dt)predop,推导出推进扩散过程中(Dt)drive-in的表达式。

第7题:

对于某种薄膜的CVD过程,淀积温度为900℃,质量传输系数hG=10cms-1,表面反应速率系数ks=1×107exp(-1.9eV/kT)cms-1。现有以下两种淀积系统可供选择(1)冷壁,石墨支座型;(2)热壁,堆放硅片型。应该选用哪种类型的淀积系统并简述理由。


正确答案: 反应室类型热壁:反应室腔壁与硅片及支撑件同时加热。一般为电阻丝加热,可精确控制反应腔温度和均匀性。适合对温度控制要求苛刻的化学反应控制淀积系统,腔内各处都发生薄膜生长。冷壁:仅对硅片和支撑件加热,一般采用辐照加热和射频加热,升降温快速,但温度均匀性差,适合对温度要求不高的质量输运控制。冷壁系统能够降低在侧壁上的淀积,减小了反应剂的损耗,也减小壁上颗粒剥离对淀积薄膜质量的影响。

第8题:

热蒸发法淀积薄膜的淀积速率与哪些因素有关?淀积速率的测量采用什么办法?


正确答案: 简述其工作原理。淀积速率与蒸发材料温度腔体形状等因素有关。淀积速率通常用石英晶体速率指示仪测量。所用器件为一个谐振板,它可以在谐振频率下振荡,工作时测量其振荡频率。原理:因为晶体顶部有材料蒸发淀积,所外加的质量将使得频率偏移,由测得的频率移动可得出淀积速率。淀积足够厚的材料后,谐振频率会移动几个百分点,振荡器便会失效,不再出现尖锐谐振。将频率测量系统的输出与机械挡板的控制相连,淀积层厚度可以在很宽的淀积速率范围内得到很好的控制。同时可以将淀积厚度的时间速率变化反馈给坩埚的温度控制,以得到恒定的淀积速率。

第9题:

二氧化硅的制备方法很多,其中最常用的是高温()、()淀积、PECVD淀积。


正确答案:氧化;气相

第10题:

淀积粘化


正确答案: 由上部土层淋洗迁移而来的次生粘土矿物过程,称为淀积粘化。在淋溶作用较强的地区则兼有残积粘化和淀积粘化的双重作用。