采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
第1题：
影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
第2题：
在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）
第3题：
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
此题为判断题(对，错)。
第4题：
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
第5题：
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
第6题：
简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
第7题：
不影响X荧光分析的主要因素有（）。
第8题：
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
第9题：
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
第10题：
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）