双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
第1题：
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
第2题：
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
第3题：
双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
第4题：
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
第5题：
检测近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。
第6题：
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
第7题：
以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）
第8题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
第9题：
双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
第10题：
双晶探头用于探测工件（）缺陷。