第1题：
此题为判断题(对，错)。
第2题：
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
第3题：
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。（）
此题为判断题(对，错)。
第4题：
检测近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。
第5题：
检验近表面缺陷最有效的方法是采用（）探头
第6题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）
第7题：
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）
第8题：
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。
A.可变角探头
B.直探头
C.斜探头
D.收/发联合双晶探头
第9题：
检验近表面缺陷，最有效地方法是（）
第10题：
检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。