1.0
2.0
3.4
2.5
第1题：
标准型的直方图与公差比较，上下限都严重超差的原因是（ ）。
A．该过程处于不稳定状态
B．该过程处于稳定状态，但过程能力不够
C．过程存在可查明因素
D．过程存在偶然因素
第2题：
设Xi(i＝1，2，…，n)为n个相互独立的随机变量，则下列结论成立的是( )。
A．若Xi(i＝1，2，…，n)服从正态分布，且分布参数相同，则
服从正态分布
B．若Xi(i＝1，2，…，n)服从指数分布，且λ相同，则服从正态分布
C．若Xi(i＝1，2，…，n)服从[a，b]上的均匀分布，则服从正态分布
D．无论Xi(i＝1，2，…，n)服从何种相同的分布，其均值都服从正态分布
第3题：
咨询人员对企业产品质量稳定性进行分析时发现，作出的直方图近似予正态分布，数据分布没有超出两侧的控制界限，但样本平均值与公差值有一些偏离，由此可以判断( )。
A．产品符合性很好，处于完全受控状态
B．产品符合性较好，处于次受控状态
C．产品符合性不太好，处于受控状态边缘
D．样本平均值与公差值有偏离，已不在受控状态
第4题：
控制图对过程进行分析，经过 努力，已使该过程的输出质量特性X服从正态分布N (210.5，1. 12),为进一步改 进质量，他们从明确分析用控制图的主要作用开始，一步一步深入进行质量改进工 作，具体如下：
第5题：
设Xi (i=1，2，…，n)为n个相互独立的随机变量，则下列结论成立的是( )。
A．若Xi (i=1，2，…，n)服从正态分布，且分布参数相同，则服从正态分布
B．若Xi (i=1，2，…，n)服从指数分布，且λ相同，则服从正态分布
C．若Xi(i=1，2，…，n)服从[a，b)上的均匀分布，则服从正态分布
D．无论Xi (i=1，2，…，n)服从何种分布，其均值都服从正态分布
第6题：
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
A.需要重新计算控制限
B.该子组中一定有不合格品
C.可判定过程处于统计失控状态
D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
第7题：
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。
A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品
B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１
C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态
D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动
E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
第8题：
A.过程的分布状态不随时间的变化而变化
B过程的分布状态符合正态分布
C过程处于标准条件下
D过程是有能力的
第9题：
控制图对过程进行分析，经过 努力，已使该过程的输出质量特性X服从正态分布N (210.5，1. 12),为进一步改 进质量，他们从明确分析用控制图的主要作用开始，一步一步深入进行质量改进工 作，具体如下：
第10题：