斜射法
水浸法
接触法
穿透法
第1题：
A、润滑接触面，尽量减少探头的磨损;
B、排除探头与探测面间的空气;
C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;
D、使探头可靠地接触;
第2题：
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为（）
第3题：
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()
A.垂直法
B.斜射法
C.表面波法
D.K型扫查
第4题：
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。
第5题：
单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。
第6题：
A、斜射法
B、水浸法
C、接触法
D、穿透法
第7题：
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）
第8题：
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。（）
此题为判断题(对，错)。
第9题：
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
第10题：
接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。