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近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）

题目
单选题
近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）
A

后乳化型渗透法

B

着色渗透法

C

水洗型荧光渗透法

D

以上方法均不能探测近表面下的缺陷

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第1题：

磁粉探伤适用于探测承压设备的（ ）。

A．表面及近表面缺陷

B．内部缺陷

C．贯穿性缺陷

D．体积缺陷


正确答案：A

第2题：

近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）

  • A、后乳化型渗透法
  • B、着色渗透法
  • C、水洗型荧光渗透法
  • D、以上方法均不能探测近表面下的缺陷

正确答案:D

第3题：

磁粉探伤可以探测船机零件的______缺陷。

A.表面

B.近表面

C.内部

D.表面和近表面


参考答案：D

第4题：

提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力


正确答案:错误

第5题：

提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）

  • A、用TR探头
  • B、使用窄脉冲宽频带探头
  • C、提高探头频率，减小晶片尺寸
  • D、以上都是

正确答案:D

第6题：

近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）

  • A、后乳化渗透法
  • B、着色渗透法
  • C、可水洗型荧光渗透法
  • D、以上方法均不能探测近表面的缺陷

正确答案:D

第7题：

双晶直探头的最主要用途是（）。

  • A、探测近表面缺陷
  • B、精确测定缺陷长度
  • C、精确测定缺陷高度
  • D、用于表面缺陷检测

正确答案:A

第8题：

涡流探伤是一种探测零件或构件______缺陷的无损探伤方法。

A.表面

B.近表面

C.表面和近表面

D.内部


参考答案：C

第9题：

检测近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。


正确答案:正确

第10题：

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷


正确答案:错误

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