H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ(微米)。测厚仪在05年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看,这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显着差异。总之，整个测量系统的准确性(Accuracy)、精确性(Precision)及稳定性(Stability)都是合格的。这里“此测量系统的准确性(Accuracy)是合格的”指的是：()
A.这30天所有的数据点都落入控制限范围内。
B.X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10%，满足%GR&R(P/TV)要求。
C.S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10%，满足P/T要求。
D.对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显着差异。
第1题：
比对试验是指各检验机构对同一样本的某一项或几个项目进行检验，出据的检验数据与平均值数据相比较的偏差值，偏差值越大其检验的准确性就越差，以此对一个检验机构的( )进行测试。
A.验车数量
B.人员操作
C.检验能力
D.质量管理
第2题：
在进行自动站与人工站数据对比分析时，要素粗差次数是指对比差值与对比差值月平均值的差值的绝对值大于3倍对比差值的月标准差的次数。
第3题：
A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPC
B.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差(I-MR)控制图即可
C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差(X-MR)控制图外,再绘制各小时的极差(R)控制图，三张控制图同时使用即可控制过程
D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
第4题：
H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）。
第5题：
比对试验是指各检验机构对同一样本的某一项或几个项目进行检验，出据的检验数据与平均值数据相比较的偏差值，偏差值越大其检验的准确性就越差，以此对一个检验机构的（）进行测试。
第6题：
将被测量与一个标准量值进行比较得到两者差值的测量为绝对测量。
第7题：
若测得的误差值等于（）被检电能表的基本误差限，应再做两次测量，取这两次和前两次测量数据的平均值作为最后的测量结果。
第8题：
A.两样本F检验
B.两样本Levene检验
C.两样本配对差值的T检验
D.两样本Mann-Whitney秩和检验
第9题：
某汽车生产商对结构件厚度的要求：公差范围为9±0.6mm，标准差为0.16mm。在测量系统分析中发现重复性标准差为0.03mm，再现性标准差为0.04mm。从%P/T及%R&R的角度分析，可以得到的结论如下：（）
第10题：
芯片镀膜生产车间每小时抽5片芯片测量其镀膜的厚度，共检测了48小时，获得240个数据。经趋势图分析发现，各小时5片镀膜厚度之均值大体是稳定的，数据也服从正态分布。但发现各小时内的差异较小，但各小时间差异较大。六西格玛团队对如何进行SPC（统计过程分析）发生了分歧。正确的意见是：（）