简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。

题目

简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。

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相似问题和答案

第1题:

X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。


正确答案:正确

第2题:

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。


正确答案:错误

第3题:

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。


正确答案: 基体:就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有:
吸收—增强效应,在复杂的样品中,元素间的相互影响,引起IK的变化;
非均匀效应,该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等;
表面效应,由于表面不平整,大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法:使用与未知样基体组成相似的标准样品,常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性(或二次曲线)
薄试样法:当试样的厚度仅为几百或几千埃时,其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和(或)添加重吸收剂,使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法:在试样内加入已知量的内标元素,该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似;在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间,不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法:在未知样中加入一定量的待测元素,比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化;常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法:试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似,也就是说,它们的强度比与试样无关;所选的散射线可以是:X光管靶材的相干和非相干散射线,试样对原级谱的连续谱的散射(即背景);所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线,所选散射线有足够的强度。

第4题:

简述X射线荧光光谱分析的优点。


正确答案: (1)分析速度快,一分钟内可以测定一个样品。
(2)分析元素多,从原子序数8-92号元素都能分析。
(3)分析元素含量范围宽,可分析最高为100%含量,最低可分析到ppm级含量。
(4)X荧光分析为无损分析。
(5)分析精度高,相对误差都在0.5%以下。

第5题:

以下说法错误的是()

  • A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人
  • B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋
  • C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行
  • D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

正确答案:A

第6题:

简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?


正确答案: (1)取样要能代表总体样品,即有代表性。
(2)保持加工表面光洁,不能出现多孔、偏析和夹杂物。
(3)表面加工要求试样与标准参比样严格保持一致。
(4)表面加工过程中的应避免污染。
(5)金属样品抛光后应立即进行测量,以便防止金属表面氧化或污染

第7题:

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()

  • A、原子荧光分析法
  • B、X射线荧光分析法
  • C、X射线吸收分析法
  • D、X射线发射分析法

正确答案:B

第8题:

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。


正确答案:正确

第9题:

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。


正确答案:正确

第10题:

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。


正确答案:特征