问题:故障率指标小于0.2/h的某产品由A1、A2、A3三个部件组成,按串联关系且不考虑分配余量时分配给A1和A2的故障率分别为0.04/h和0.05/h,则正确结果有()。A、分配给A3的故障率为100/h。B、分配给A3的故障率为0.11/hC、A1、A2属于薄弱环节D、故障率最高的是A3,A3属于薄弱环节
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问题:故障树定性分析内容之一是求全部最小割集。对于最小割集,以下说法错误的是()。A、阶数越大的最小割集越重要B、在低阶最小割集中出现的底事件比高阶最小割集中的底事件重要C、在不同最小割集中重复出现次数越多的底事件越重要D、B和C都对
问题:关于可靠性鉴定试验概念的错误说法是()。A、全数试验是抽样一部分产品进行可靠性试验。B、定时截尾试验是事先规定试验时间,一旦到达试验时间,立即终止试验,记录出现的故障次数。C、定数截尾试验是事先规定允许出现的故障数r,一旦发生了r次故障,立即终止试验,记录试验时间。D、序贯截尾试验是按事先拟定的接收、拒收及截尾时间线,在试验期间不断比较,按判据随时做出决定。
问题:在产品的设计阶段, 首先关注的安全问题应该是以下哪个()?A、控制需求B、生产工具C、管控和设备D、端客户应用
问题:下列哪个为最有效的解决优先关键因素顺序技术问题()A、维恩图(venn图)B、散布图C、柏拉图(Pareto表)D、因果图
问题:下列有关响应面法哪个表述是真实的()A、能排除在制造过程中产生的日常变量B、他们比二次水平因子设计技术更有效率C、他们不需要考虑技术实现方法D、一定区域内的一组数量是如何影响输出
问题:一个器件被施加了均值为9,000N且标准偏差为900N的应力,它还必须承受均值5,500N且标准偏差为800N的负载。这两种应力都正态分布,那么器件的失效率是多少?()A、2.0×10-5B、1.8×10-3C、5.8×10-3D、2.0×10-2
问题:相互关系分析是用来衡量()的方法。A、二个随机变量间的统计关系B、二个随机变量间的偶然关系C、正态分布的吻合度D、指数分布的吻合度
问题:关于可靠性增长摸底试验剖面的正确说法有()。A、试验剖面中的应力都要采用实测数据B、试验剖面主要包括环境条件、工作条件和使用维护条件C、应模拟产品实际的使用条件制定试验剖面D、一般按GJB899《可靠性鉴定和验收试验》确定试验剖面
问题:一枚硬币被投掷10次。出现人头面次数的期望均值和方差的是多少()A、0.5,0.025B、5.0,2.500C、5.0,5.000D、10.0,5.000
问题:关于可靠性增长试验条件的错误说法是()。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲,不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。
问题:关于可靠性强化试验中快速温变循环试验剖面的错误说法是()。A、通常快速温变循环的上、下限可采用低温工作极限加5℃为下限、高温工作极限减5℃为上限。B、温度变化率一般在15℃/min到60℃/min之间。C、为了节约试验费用,试验的循环次数一般不超过6次。D、在通常情况下,受试产品在上下限温度保持时间为120分钟。
问题:关于可靠性强化试验应力的错误说法是()。A、常用环境应力有盐雾、低气压、辐射。B、主要环境应力有低温、高温、快速温变循环。C、主要环境应力有振动、湿度以及综合环境。D、根据需要还可以施加其它应力,如电应力、冲击力等。
问题:元器件计数法适用于产品设计开发的()。A、早期B、中期C、后期D、详细设计期
问题:假设产品故障密度函数为f(t),那么t=T时刻,产品发生故障的概率为()。A、f(T)B、∫0Tf(t)dtC、∫T∞f(t)dtD、f(T)-f(0)
问题:关于环境应力筛选与可靠性统计试验关系的正确说法有()。A、环境应力筛选是可靠性统计试验的预处理工艺B、任何提交用于可靠性统计试验的样本必须经过环境应力筛选C、先进行可靠性统计试验,后进行环境应力筛选D、不进行环境应力筛选,直接进行可靠性统计试验
问题:关于测试点的布置说法不恰当的是()。A、应在可达性好的位置B、应在易损坏的部位C、应尽可能集中D、应尽可能分区集中
问题:以可靠性为中心的维修(RCM)的目的是()A、获得可维护性数据B、保护系统功能C、跟踪维护训练D、描述当机时间分布特性
问题:下列哪个计算被用于决定一系列组合元件的整体的误差()A、误差平均值B、误差最大值C、误差的总数D、误差平方和平方根
问题:某电子产品由5个单元组成串联系统,若每个单元的可靠度均为0.95,该系统可靠度为()A、0.77B、0.87C、0.97D、0.67